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ISOSCOPE® FMP10德國菲希爾FMP10高精度膜厚儀

德國菲希爾FMP10高精度膜厚儀德國菲希爾FMP10高精度膜厚儀在訂貨是一定要注明一種是電渦流型的FMP10涂層測厚儀（ISOSCOPE® FMP10），一種磁感應的FMP10涂層測厚儀（DELTASCOPEF®MP10）；ISOSCOPE® FMP10高精度膜厚儀根據DIN EN ISO 2360, ASTM B244標準的電渦流方法非導電涂層在非鐵金屬基材上，例如：油漆、臘克和合成涂層在鋁、銅、黃銅、鋅和不銹鋼上鋁的陽極氧化層（非鐵基材）

型號
DELTASCOPE FMP10
ISOSCOPE® FMP10
測量原理
磁性測厚法，能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量
電渦流法測量非磁性金屬基體上非導電覆蓋層的厚度
探頭型號
FGA1.3磁感應探頭
FTA3.3H電渦流探頭
測量范圍μm
 0 ～ 1500μｍ，測量精度： 0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～1000μｍ，± 0.5 ％； 1000～1500μｍ， < 2.5%。
0 ～ 1 200μｍ。測量精度：0～50μｍ，± 0.25μｍ；50～800μｍ，± 0.5 ％；800～1200μｍ，< 2.5%
重量g
230
230
規格
（160 x 80 30）
（160 x 80 x 30）

該公司產品分類： 色差儀 頻閃儀 磁粉探傷儀 粗糙度儀 超聲波測厚儀 涂層測厚儀

QNix4200東莞膜厚儀價格

涂層測厚儀又稱膜厚儀、漆膜測厚儀、薄膜測厚儀、膜厚規等。

一、QNix4200/4500涂層測厚儀簡介：

    QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼鐵等磁性金屬基體上的非磁性涂層、鍍層、氧化層，如油漆、粉末、塑料、鋅、鉻、鋁、錫等；；QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

 二、QNix4200/4500涂層測厚儀產品優點：

    只需調零，無需校準 

    體積小巧，操作方便 

    一機雙用，Fe/NFe兩用探頭 自動識別基體 

    精度高 反應快

    

    自動開關機 自動調零

    價格優惠 

    三、QNix4200/4500涂層測厚儀技術參數：

    技術參數 

    磁性基體（Fe模式） QNix4200/4500均有此功能 

    非磁性基體（NFe模式） QNix4500有此功能 

    測量范圍 Fe:0-3000um/NFe:0-2000um 

    顯示精度 0.1um 

    精度 0-50um:≤±1um

    50-1000um:≤±1.5%讀數

    1000-3000um≤±3%讀數 

    最小接觸面 10×10mm 

    最小曲率半徑 凸面：3mm

    凹面：25mm 

    最小基體厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05mm 

    溫度補償范圍 0-60℃ 

    顯示 LCD液晶（帶背光） 

    探頭 紅寶石固定式 

    電源 2×1.5V干電池 

    尺寸 100×60×27mm 

    重量 110g 

如果您想進一步了解，請聯系我們，我們會根據您的具體情況給予推薦適合您使用的規格型號。東莞膜厚儀價格-顏小云 0769-2338 1495 / 153 2290 4332

該公司產品分類： 邵氏橡膠硬度計 肖氏硬度計 維氏硬度計 洛氏硬度計 布氏硬度計 里氏硬度計 磁性/渦流兩用測厚儀 渦流測厚儀 磁性測厚儀 漆膜測厚儀 涂層測厚儀 超聲波測厚儀 硬度計 探傷儀 測厚儀

CM-8821（鐵基）國產涂層測厚儀涂層測厚儀油漆測厚儀膜厚儀漆膜測厚儀

國產涂層測厚儀；涂層測厚儀；油漆測厚儀 ；膜厚儀；漆膜測厚儀
產品型號： CM-8821（鐵基）
產品簡介：  
應用：測量鋼、鐵等磁性金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。
主要技術參數：
  功能： 測量鐵磁性金屬基體上的非導磁涂層的厚度
  測量范圍： 0～1000um/0-40mil（標準量程）
  分辨率： 0.1 um （小于100um）
  1 um （大于100um）
  最小測量面積：6mm
  最薄基底：0.3mm
  公制/英制：可選擇
  電池電壓指示：低電壓提示
  自動關機
  使用環境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
  度： ±1~3%n 或 ±2.5um
  電源： 4節5號電池
  外形尺寸： 161x69x32 mm
  重量：210g（不含電池）
  測量范圍可選：0-200um to15000um

該公司產品分類： 通用儀器檢測類 手機IT產品性能檢測類 箱包整套性能檢測試驗機 硬度計、光澤度計 膜厚儀 水份儀 模擬環境試驗箱 玩具品紡織品檢測試驗機 線材性能檢測試驗機 模擬運輸振動臺 表面質量性能檢測 耐磨機 膠帶膠粘性能檢測試驗機 跌落性能檢測試驗機 拉力機 紙品紙箱印刷包裝檢測類 端子按鍵連接器高性能檢測

Surfix SX-N1.5三防漆測厚儀 PCB線路板油墨厚度測試儀 感光膠測厚儀

德國菲尼克斯PHYNIX Surfix SX-N1.5 分體涂層測厚儀

N型渦流原理：測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。

這款德國PHYNIX涂層測厚儀配有彩色顯示屏，更好的內容顯示，并包含多種語言。目前的版本含有英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，土耳其語，捷克語以及中文。

相對于Surfix系列，此系列的內存也提高了很多，可以存儲多達2.000的測量值。與電腦的鏈接非常簡單，是通過 USB2.0. PHYNIX.connect 實現的。這是一個數據傳輸程序，和所有Windows系統兼容, 可以使數據方便地輸進Excel。此系列有兩種產品: Surfix® SX 可以連接所有PHYNIX探頭，使得儀器可以滿足很多測量任務。Surfix® EX 帶有固定標準探頭，適合任務明確的測量。和Surfix® SX 配有可拔插探頭相比，它易操作，更經濟。

我們的Surfix®X測量儀用于以下領域：

電鍍行業，噴涂行業，汽車行業，化學工業，航空航天工程，造船業，研究實驗室和大學，車間，顧問和評估員

我們的所有測量探頭均配備碳化鎢硬質合金耐磨測芯，提高了探頭耐磨性和使用壽命。

產品特點：

適合用戶友好的測量技術

高分辨率彩色顯示

USB接口

自動識別基材

數據存儲器：2,000個測量值

在線統計

直觀的菜單指導

在高達150°C或300°C的高溫表面上進行測量（選購）

制造商的測試證書

 

規格參數

測量原理

電渦流

功能

測量鋁、銅、鋅、不銹鋼等非磁性金屬基體上的絕緣涂鍍層，如油漆、瓷、塑料、琺瑯氧化層等。

測量范圍

0~1500μm

誤差范圍

±(1μm+1％)

分辨率

0.1μm

探頭

N1.5

探頭尺寸

Ø14mm x 83 mm

探頭重量

70g

校準模式

工作校準，零校準，單箔校準; 零偏移

統計功能

測量值，平均值，標準偏差，最小值，最大值

數據接口

USB2.0

數據存儲

2000個測量值

滿足標準

DIN，ISO，ASTM，BS

系統語言

英語，德語，法語，意大利語，西班牙語，土耳其語，捷克語以及中文

顯示屏幕

高分辨率彩色顯示屏

工作溫度

0~50℃

防護等級

IP52

整機尺寸

137*66*23mm

包裝清單

名稱

型號

清單

涂層測厚儀

Surfix SX-N1.5

主機、N1.5探頭、橡膠防護套、校準膜、零標準片、2 節AA電池、PHYNIX.connect 傳輸軟件、使用手冊、制造商證書、包裝箱
該公司產品分類： 其它檢測儀器 液位儀 船舶艙蓋檢漏儀 氣體檢測儀 涂裝檢測儀 涂層測厚儀 超聲波測厚儀 硬度計

CM8855蘭泰 一體式可存儲膜厚儀 CM8855

型號 CM-88551 . 特性* 本儀器是用電池供電的便攜式測量儀器， 采用磁感應和電渦流原理。測量方法符合國際標準ISO2178,ISO2360和國家標準GB4956,GB4957.它采用計算機技術,無損檢測技術等多項技術,無需損傷被測體就能地測量出它的厚度.* F型探頭可直接測量導磁材料（ 如鐵、鎳） 表面上的非導磁覆蓋層厚度（ 如： 油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻等） 。可應用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測量，也可用于船體油漆及水下結構件的附著物的厚度測量。* NF型探頭可測量非導磁金屬基體上的絕緣覆蓋層厚度， 如鋁、銅、鋅、無磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠涂層， 也可測量鋁或鋁合金材料的陽極氧化層厚度。* 具有耐磨硬質金屬探針的彈簧導套式探頭,不但能在堅硬或粗糙的表面上進行測量,而且能測頭具有不變的壓緊力和穩定的取樣值。* 測量范圍寬,分辨率高。
* 自動記憶校準值,方便使用。
* 一體化結構,體積小,重量輕。
* 數字背光顯示,無視差。
* 可存儲99組數據通過測出平均值,最大值和最小值實現儀器的統計功能。
* 利用可選的RS232C軟件和電纜,可與PC計算機通訊,實現數據的采集,處理,分析和打印功能。
* 本儀器設有自動關機， 實現省電功能。
規格
顯示器4位數字背光液晶
標準測試范圍0-1250 um
（其他測量范圍可訂制）
最小曲面:F: 凸 1.5mm/ 凹 25mm N: 凸 3mm/ 凹 50mm
最小測量面積：6mm
最薄基底：0.3mm分辨率: 0.1μm/1μm測量精度:±1-3%n或2.5μm
電池電壓指示：低電壓提示
具有自動識別被測基體的功能。
測量模式單次測量和連續測量。
具有公英制單位轉換功能,實現μm/mil轉換。
帶有標準的RS232C接口。
電 源: 2節7號電池。
操作條件:溫度0-40℃，濕度< 95%
尺 寸126x65x35 mm
重 量81 g 不包括電池
標準附件：
便攜盒............1只
鐵基 .............1塊
鋁基 .............1塊
說明書............1份
校準膜片..........1套
（膜片的實際厚度詳見包裝）
可選附件：1.RS232C 通訊電纜和軟件USB適配器          2.藍牙通訊和軟件
該公司產品分類： 測振儀 皮帶張力儀 硬度計 酸堿度控制器 溫濕度計 溫度表 照度計 頻閃儀 發動機轉速表 轉速表 聲級計 水分儀 涂層測厚儀 超聲波測厚儀 粗糙度儀

CMI900膜厚儀

 膜厚儀，膜厚測試儀，膜厚測量儀，鍍層測厚儀，CMI900，無損測厚儀，金屬多鍍層測厚儀

用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業以形成行業測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯系 測量量樣品 洽談往來 涂鍍層的無損檢測方法和測厚儀無損檢測技術是一門理論上綜合性較強，又非常重視實踐環節的很有發展前途的學科。它涉及到材料的物理性質、產品設計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。在化工、電子、電力、金屬等行業中，為了實現對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法，這樣，便出現了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業已用戶進行成品質量檢測必備的最重要的工序。是產品達到標準的必備手段。目前，國內外已普遍按統一的國際標準測定涂鍍層厚度，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質研究方面的逐漸而更加至關重要。有關覆層無損檢測方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線熒光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產品或產品表面，系有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，裝置復雜，測量范圍廣。一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。

    采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經濟地進行。以下分別介紹幾款常規測厚儀器。在電鍍原料價格飛漲的 無損金屬鍍層測厚儀  是提高產品品質，降低產品成本的理想選擇。   

牛津儀器 電鍍 膜厚測試儀 CMI900 膜厚儀，專業測量金、銀 鈀 銠 鎳 銅 錫 等貴金屬多鍍層膜厚測量，快速 無損，業內廣受好評，客戶應

用廣泛在 五金 連接器 PCB  LED支架等行業以形成行業測量的標準。歡迎廣大五金連接器客戶聯系 測量量樣品 洽談往來 本公司經營多年工

程師經驗豐

富，商業合作個方式靈活。同時經營原裝OXFORD X光射線管 ETP SRP-4探頭等配件，以及ROHS檢測設備國產ROHS分析檢測儀，臺式元素分

析儀。無論您是購買 還是想了解產品的詳細介紹 請隨意聯絡 158 1865 3509  唐生   電郵：369823789@qq.com同時希望廣大銷售朋友在生意上多多關照

 

儀器介紹CMI 900  系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層  厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域

，為產品質量控制提供、快速的分析.基于WindowsXP中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了對CMI900主機的自動化控制， PCB 五金 LED 連接器 表面處理等行業技術參數：CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業A  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。B ：精確度領先于世界，精確到0。025um  （相對與標準片）C ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、最大值、最小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X

-bar/R圖等多種數據分析模式。CMI900系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米牛津儀器CMI900電鍍膜厚測量儀

該公司產品分類： 光譜儀 膜厚測試儀

SFT-110X射線熒光鍍層膜厚儀SFT-110

艾先生  --5334  0755--3150   Q   -6154

推出配備自動定位功能的[X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110]，使操作性進一步提高。 　　對半導體材料、電子元器件、汽車部件等的電鍍、蒸鍍等的金屬薄膜和組成進行測量管理，可產品的功能及品質，降低成本。精工從1971年推出非接觸、短時間內可進行高精度測量的X射線熒光鍍層厚度測量儀以來，已經累計銷售6000多臺，得到了國內外鍍層厚度、金屬薄膜測量領域的高度關注和支持。 　　為了適應日益提高的鍍層厚度測量需求，精工開發了配備有自動定位功能的X射線熒光鍍層厚度測量儀SFT-110。通過自動定位功能，僅需把樣品放置到樣品臺上，就可在數秒內對樣品進行自動對焦。由此，無需進行以往的手動逐次對焦的操作，大大提高了樣品測量的操作性。 　　近年來，隨著檢測零件的微小化，對微區的高精度測量的需求日益增多。SFT-110實現微區下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。并且，配備有新開發的薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準物質也可進行多達5層10元素的多鍍層和合金膜的測量，可對應更廣泛的應用需求。

測量元素:原子序號22（Ti）～83（Bi） X射線源:空冷式小型X射線管 檢測器:比例計數管 準直器:○型： 0.1mmφ、0.2mmφ　2種 樣品觀察:CCD攝像頭（可進行廣域觀察） 對焦:激光點（自動） 濾波器：一次濾波器： 自動切換 樣品臺（臺式尺寸）: 500（W） x400（D） x 150（H）mm （移動量）:X:250mm, Y:200mm 操作部:電腦、19寸液晶 測量軟件:薄膜FP法 （最多5層膜、10種元素）、標準曲線法 數據處理:配備有Microsoft® Excel、Microsoft® Word 安全機構:樣品門連鎖、樣品的防沖撞功能、儀器診斷功能

特點 即放即測！ 通過自動定位功能，放置樣品后僅需幾秒，便能自動對準觀察樣品焦點。 　 10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！ 以的設計實現微小區域下的高靈敏度，即使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度地提高膜厚測量的精度。 無標樣測量！ 將薄膜FP軟件進一步擴充，即使沒有厚度標準物質也能進行高精度的測量。也可簡單地測量多鍍層膜和合金膜樣品。 通過廣域觀察系統更方便選擇測量位置！ 通過廣域觀察系統，能夠從畫面上的樣品整體圖（最大250×200mm）中方便地指定測量位置

 

該公司產品分類： EO滅菌柜 環氧乙烷滅菌器 頂空氣相色譜 紫外可見分光光度計 環氧乙烷殘留量檢測儀 環氧乙烷滅菌柜 環氧乙烷滅菌器 儀器租賃 泰斯肯掃描電鏡 萊伯泰科 電感銷售 海光儀器 二手儀器回收 二手儀器銷售 二手儀器銷售和回收 儀器維修保養 賽默飛世爾（熱電） 韓國賽可儀器 瑞士萬通儀器 日本精工儀器

LZ-370深圳/惠州/東莞Kett手持式涂鍍層膜厚儀LZ-370

技術參數

測量方式

電磁式

渦流式

探頭名稱

磁性探頭

渦流探頭

測量對象

磁性金屬（鐵、鋼）上非磁性涂鍍層

非磁性金屬（非鐵）上的絕緣層

測量范圍

0～2500um（99mils）

0～1200um（47mils）

測量精度

<50um:±1um;  50～1000um:±2%; >1000um:±3%

分辨率

<100um:0.1um;   >1000um:±1um

存儲數據

約3000個

預存通道

電磁式和渦流式各50個，共計100個

顯示方式

LCD數顯

數據輸出

連接電腦或打印機

電源

5#電池×4個

消費電量

80mW（不使用背光狀態下）

電池壽命

100小時（不使用背光狀態下連續使用的情況下）

室溫要求

0～40℃

外形尺寸

主機：75（W）×145（D）×31（H）,  340g

標準配置

鐵基體，鋁基體，標準片，V型塊，主機皮套，電池×4個，使用說明書

可選附件

標準片，專用臺架，軟件，數據線，探頭

該公司產品分類： 無損檢測設備 環境試驗機系列 光學顯微鏡系列 硬度計系列 測高儀系列 投影儀系列 影像測量儀系列 日本三豐精密量儀

CMI900膜厚儀|Molex膜厚儀|Amphenol膜厚儀

國牛津儀器CMI900用于：Tyco膜厚儀,Molex膜厚儀,Amphenol膜厚儀技術規格和介紹可測量元素范圍：Ti22–U92；可同時測定5層/15種元素/共存元素較正；也可進行鍍層的單層測量。 測量精度：被測元素厚度﹤20μin（0.5μm）時，第1層元素測量誤差±1μin，第2層元素測量誤差±2μin，第3層元素測量誤差±3μin，被測元素厚度＞20μin（0.5μm）時，第1層元素測量誤差±5%，第2層元素測量誤差±10%，第3層元素測量誤差±15%， 測量斑點尺寸：在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器）在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm<即圓形12mil>準直器） 測厚范圍：取決于您的具體應用 X射線管采用垂直下照式，空冷式微聚焦型，W靶（可選用Rh、Mo、Ag等）、50W，且裝備有安全防射線光閘。 準直器：可配置單準直器或多準直器，配多準直器時最多可同時裝配6種規格的準直器；又分為圓形、矩形準直器；圓形準直器規格：4、6、8、12、13、20mil（即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm）等矩形準直器規格：1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil（即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm）等 觀察系統選用30倍（可選用50倍和100倍）高分辨彩色CCD觀察系統，具有激光自動對焦功能、變焦距控制功能和固定焦距控制功能 樣品臺：最大尺寸610mm x 610mm，為開槽式樣品室；分固定臺、程控臺、自動臺，其Z軸為自動控制，移動高度43.18mm；固定臺、程控臺的X、Y軸為手動控制；自動臺的X、Y軸為自動控制，移動范圍152.4 x 177.8mm。 分析應用軟件：Windows XP中文平臺、SmartLink FP分析軟件包 

該公司產品分類： x-strata920 cmi900 cmi900/strata920 X-STRATA920 CMI900 X-STRATA920 CMI900 X-SARATA920 CMI900 鍍層測厚儀 膜厚測試儀 膜厚儀

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