價格: 粗品脫鹽>75﹪>85﹪>90﹪>95﹪>98﹪>99﹪1-20mg¥48¥58¥88¥110¥150¥160¥240¥30021-30mg¥58¥68¥100¥130¥170¥200¥300¥35031-50mg¥78¥88¥130¥170¥210¥250¥380¥40051-80mg¥108¥118¥178¥230¥290¥350¥650¥68081-100mg¥128¥130¥208¥278¥360¥400¥780¥820500mg¥160¥200¥288¥388¥588¥820¥1300¥16001000mg¥230¥288¥488¥580¥830¥1080¥2100¥25002000mg¥320¥420¥680¥880¥1200¥1400¥2800¥3500
產品名稱:鈣離子探針Calcein
不斷提高的燃料成本,使得利用煙氣分析來提高鍋爐的燃燒效率變得越來越重要。一臺實用的,操作簡單而又便攜的煙氣分析儀即為最理想的選擇。testo 340僅標配O2傳感器, 其余3個傳感器可根據不同應用而任意選擇搭配。緊湊的設計,值得信賴的技術使得testo 340可適用于以下各種應用中:• 環境監測;• 節能監測;• 固定式發動機的檢測;渦輪機檢測預標定即插即用的備用傳感器3個自由選擇的傳感器插槽(標配O2, 至少2個傳感器方可工作) CO, COlow, NO, NOlow, NO2以及SO2testo 340標配差壓/流速測量功能獨一無二的量程擴展功能,標配單個傳感器量程擴展或選配所有傳感器量程擴展自動流量控制氣泵模塊式煙氣探針數據存儲功能選配: 數據傳輸,通過USB與easyEmission電腦軟件連接10種內置燃料,10種用戶自定義燃料– 燃料系數可通過easyEmission軟件進行計算testo 340至少2個傳感器方可進行工作,最多可配備4個傳感器.
產品優點江蘇銷售德國德圖340進口煙氣分析儀帶探針過濾芯模塊式煙氣探針數據存儲功能選配: 數據傳輸,通過USB與easyEmission電腦軟件連接10種內置燃料,10種用戶自定義燃料– 燃料系數可通過easyEmission軟件進行計算testo 340至少2個傳感器方可進行工作,最多可配備4個傳感器.
技術參數 |
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測量范圍 | -200 ~ 200 hPa |
測量精度 | ±0.5 hPa (-49.9 ~ 49.9 hPa) ±1.5 %測量值 (其余量程) |
分辨率 | 0.1 hPa |
技術參數 |
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測量范圍 | +600 ~ +1150 hPa |
測量精度 | ±10 hPa |
分辨率 | 1 hPa |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 25 Vol.% |
測量精度 | ±0.2 Vol.% |
分辨率 | 0.01 Vol.% |
相應時間 | < 20 s |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 10000 ppm |
測量精度 | ±10 ppm 或 ±10 %測量值 (0 ~ 200 ppm) ±20 ppm 或 ±5 %測量值 (201 ~ 2000 ppm) ±10 %測量值 (2001 ~ 10000 ppm) |
分辨率 | 1 ppm |
相應時間 | < 40 s |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 500 ppm |
測量精度 | ±2 ppm (0 ~ 39.9 ppm) ±5 %測量值 (其余量程) 數據取自20℃環境溫度。額外的溫度系數0.25%測量值/K |
分辨率 | 0.1 ppm |
相應時間 | < 40 s |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 4000 ppm |
測量精度 | ±5 ppm (0 ~ 99 ppm) ±5 %測量值 (100 ~ 1999 ppm) ±10 %測量值 (2000 ~ 4000 ppm) |
分辨率 | 1 ppm |
相應時間 | < 30 s |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 300 ppm |
測量精度 | ±2 ppm (0 ~ 39.9 ppm) ±5 %測量值 (其余量程) |
分辨率 | 0.1 ppm |
相應時間 | < 30 s |
技術參數 |
|
測量范圍 | 0 ~ 500 ppm |
測量精度 | ±10 ppm (0 ~ 199 ppm) ±5 %測量值 (其余量程) |
分辨率 | 0.1 ppm |
相應時間 | < 40 s |
為避免吸附,不應超過最長2個小時的測量時長。
SO₂測量 技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 5000 ppm |
測量精度 | ±10 ppm (0 ~ 99 ppm) ±10 %測量值 (其余量程) |
分辨率 | 1 ppm |
相應時間 | < 40 s |
為避免吸附,不應超過最長2個小時的測量時長。
抽力測量 技術參數 |
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測量范圍 | -40 ~ +40 hPa |
測量精度 | ±0.03 hPa (-2.99 ~ +2.99 hPa) ±1.5 %測量值 (其余量程) |
分辨率 | 0.01 hPa |
技術參數 |
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測量范圍 | -40 ~ +1200 °C |
測量精度 | ±0.5 °C (0 ~ +99 °C) ±0.5 %測量值 (其余量程) |
分辨率 | 0.1 °C |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 120 % |
分辨率 | 0.1 % |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 99.9 % |
分辨率 | 0.1 % |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ 99.9 °Ctd |
分辨率 | 0.1 °Ctd |
技術參數 |
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測量范圍 | 0 ~ CO₂ max |
測量精度 | ±0.2 Vol.% |
分辨率 | 0.1 Vol.% |
相應時間 | < 40 s |
技術參數 |
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外殼 | TPE PC |
防護等級 | IP40 |
保修 | 1年; 傳感器6個月 |
顯示屏尺寸 | 160 x 240 pixels |
顯示屏特性 | 圖形顯示 |
電源 | 可充電電池組 3.7 V / 2.4 Ah; 電源 6.3 V / 2 A |
用戶自定義燃料 | 10種用戶自定義燃料,含標氣 |
泵流量 | 0,6 l/min (恒定控制) |
軟管長度 | 最長至7.8 m (通過連接延長軟管) |
最大煙氣正壓 | 50 mbar |
最大煙氣負壓 | -200 mbar |
最大內存 | 100個文件夾 |
每個文件夾 | 最多容納10個測量點 |
每個地址 | 最多容納200組數據 |
其他 | 最多容納的數據總數取決于文件夾或測量點的數量 |
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A R R O W ™硅 A F M 探 針
獨特的箭頭形狀,針尖視界的大化 ,定位更容易
Nanoworld 輕敲模式探針——Arrow NCR
Arrow™ - Non-contact / Tapping™ mode - Reflex coating
概況
• 用于高分辨掃描成像的SPM、AFM探針
• 適合于所有商業SPM和AFM
• 單晶硅支架支撐著懸臂和針尖(單塊設計)
材料特點
• 高度摻雜單晶硅 (電阻率為0.01 - 0.025 Ohm•cm)
• 沒有內部壓力,并帶完全挺直的懸臂
• 可以用于液體或者電化學細胞的化學惰性硅
懸臂
• 長方形懸臂具有三角形的自由端
• 由于 Arrow™形狀,興趣區的定位很容易
• 針尖與懸臂端中間有一致距離
• 寬廣背面的梯形截面,為了簡單地調整激光
支架
• 支架的規格可復制的(1.6 mm x 3.4 mm)
• 支架的刻蝕角落避免支架和樣品中間的接觸
針尖
• 針尖高度為 10 - 15 µm,曲率半徑典型< 10 nm (保證的 <15 nm)
• 探針的宏觀半錐角
- 沿著懸臂軸為30° 至 35°
- 從側面看為20°至25°
包裝規格
• 裝 10、20、50個掃描探針的小包裝
• 裝380個掃描探針 (看產品種類) 的整個圓片包裝
常用探針型號:
探針對AFM成像質量的影響很大,多數情況下,AFM圖質量差就是因為探針鈍了,或者多針尖引起的。
一根AFM探針包含三個部分。一,基片(Substrate);二,微懸臂梁(Cantilever);三,針尖(tip);很多情況下,說針尖也是指整個探針。
材質:
1. 輕敲探針:一般是單晶硅,型號如RTESP;
2. 接觸模式探針:材質是SiN,而新型號的SNL接觸探針,懸臂梁是SiN,而針尖則Si(曲率半徑2nm左右),這種探針可以提供接觸模式下的分辨率圖;
3. 功能探針:如磁力探針(MESP),導電探針,則是在普通的硅探針的基礎上再鍍上相應的材料。MESP的鍍層是Co/Cr,SCM-PIT的鍍層是Pt。
指標:
探針的指標主要分三個部分,分別對應了基片,微懸臂梁,和針尖三個部分。
1. 基片,就是基片的長,寬,高,各種探針的基片尺寸是基本一致的。
2. 懸臂梁,分為矩形梁和三角形懸臂梁,他們的長寬厚的幾何尺寸決定了懸臂梁的彈性系數和共振頻率。而彈性常數K是探針的很重要的一個參數,一般來說,接觸模式的探針的彈性常數小于1N/m。輕敲模式的探針的懸臂梁彈性系數從幾個N/m到幾十個N/m。常用的RTESP的彈性常數是40N/m。
3. 針尖,針尖的的幾何形狀是一個四面體。指標主要有,曲率半徑(Tip Radius),探針高度(Tip Height),對應于四面體的指標,角(Front Angel),后角(Back Angel),側角(Side Angel),還有一個是Tip Set Back,對應的是針尖離懸臂梁末端的水平距離。
常用探針型號介紹
1. 輕敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP
2. 接觸模式,SNL,NP,
3. 智能掃描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+
4. 磁力顯微鏡,MESP-V2,MESP-RC-V2
5. 靜電力顯微鏡,導電AFM,等電學測量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。
標準型掃描器 XY:20μm,Z:2μm 分辨能力 XY:0.2nm, Z: 0.01nm(可實現原子級分辨)
測試功能:
* 形貌測量:接觸式AFM、輕敲式Tapping、掃描隧道STM; * 微摩擦力研究:FFM功能、切向調制摩擦力LM-FFM功能,摩擦力曲線; * 微觀磁力研究:高分辨磁力顯微鏡MFM功能; * 表面納米加工:Vector Scan和Raster Lithography功能,實現探針定向刻蝕和制作復雜圖像; * 高分子材料分析:Phase模式、力曲線、粘彈性模式、微區粘性模式; * 電性學能分析:表面電位勢測量模式、靜電力模式、壓電響應力模式、掃描電容成像模式、同時電流測量模式、電流隧道譜模式; * 生物領域:液體中AFM/Tapping模式、力曲線、支持封閉液體樣品池; * 電化學領域:EC-AFM/STM功能。
世界原子力顯微鏡(掃描探針顯微鏡),客戶已遍及國內眾多重點高校和科研機構,依的品質和的技術服務,受到客戶的好評! 其他相關產品:
1.多功能掃描探針顯微鏡:用于測量各種材料表面高精度成像外,還能表征多種材料如無機物非金屬材料、金屬材料、高分子材料、復合材料和生物材料的多種物性,包括磁力、摩擦力、粘彈性、表面電位勢、靜電力、壓電響應、電流像、電流隧道譜、電容等等,還能進行納米尺度的加工及力學性質的表征,能在大氣、液體及電化學條件下測量。
2.新型多功能可控環境掃描探針顯微鏡:目前全球商用的一款真正專業級高真空環境控制型SPM, 不但具備多功能掃描探針顯微鏡系統所有功能;而且掃描在封閉的Chamber中進行,可對測量的環境(高真空、高溫、低溫、液體、電化學等)進行控制; 可連續變溫,低溫達-120℃,高溫可達800度;
3.大尺寸樣品掃描探針顯微鏡: 大尺寸φ200mm樣品的微區(微米至納米量級)形貌及其物理特性進行觀測分析。適用于測量各種光盤(DVD,CD,HD等)、磁盤、半導體、微電子及其他大尺寸的樣品。
4.低溫掃描霍爾顯微鏡(LT-SHPM,低溫霍爾顯微鏡):該系統可與多種低溫杜瓦聯用,實現低溫1K~300K溫度范圍內樣品表面微區磁場分布定量化圖像化分析,樣品尺寸達15*15*5mm,微區磁化性能B-H曲線和M-H曲線測量,實時測量動態磁化現象,支持擴展STM、AFM、MFM、EFM和SNOM等功能,磁場高達16T; 5.多功能PPMS掃描探針顯微鏡(PPMS-SPM):該系統可與現有的幾乎所有的PPMS系統(物性測量系統,如 Quantum Design,Inc. )聯用,實現AFM、MFM、SHPM、STM、EFM和SNOM等測量功能,并且可在溫度范圍2K~300K和磁場高達16T條件下,高分辨成像; 6.mK 超低溫掃描探針顯微鏡(mK-SPM,超低溫原子力顯微鏡):該系統可與牛津儀器的Dilution低溫杜瓦和He3系統,或者其他mK系統聯用,實現mK~300K溫度范圍高分辨樣品表面成像;主要測量功能STM、接觸式AFM、非接觸式AFM、MFM、Quartz/Akiyama AFM、EFM和SNOM等,磁場高達16T;
推力試驗探針
●產品概述:
本套探針分別符合GB2099.1-2008標準中的圖9及圖 10、IEC884-1.2002圖9及圖10要求,20N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件是否被觸及,1N推力探針主要用于檢驗保護門內的帶電部件及有加強保護插座的帶電部件是否被觸及。
●技術參數
20N推力試驗探針GR-TT02:探針部分3+0.03 0×1+0.015 0 ×80±0.5,端部倒圓R0.2±0.05,20N推力;
1N推力試驗探針GR-TT03:探針部分Φ1+0.015 0 ×80±0.5,端部倒圓R0.05,1N推力
概述:
三維原子探針顯微術(3DAP),也稱為原子探針斷層分析術(APT),是一種具有原子級空間分辨率的測量和分析方法。基于“場蒸發”原理,三維原子探針通過在樣品上施加一個強電壓脈沖或者激光脈沖,將其表面原子逐一變成離子而移走并收集。3DAP的特性就是從最小的尺度來逐點揭示材料內部結構,不論簡單亦或復雜。可以輕松獲得納米尺度結構的細節—化學成分和三維形貌,因而專門應對材料研發中令人棘手的小尺度結構的測量與分析問題。
發展及應用:
三維原子探針(3DAP)可以直接觀察到溶質原子偏聚在位錯附近形成的柯氏氣團(Cottrell 氣團);
可以分析各種元素在各種內界面(晶界、相界、多層膜結構中的層間界面等)的原子的偏聚行為;
研究沉淀相的析出過程、非晶晶化時原子擴散和晶體成核的過程;
分析各種合金元素在納米晶材料不同相及界面上的分布等。
以前,由于對樣品有導電性的要求以及制作針尖形狀樣品有一定難度等一些問題,原子探針的應用曾經在很長一段時間內局限于金屬材料,僅僅做純科學的探索。進入2000年以來,儀器本身在一些關鍵技術上的突破性進展,加上匯聚離子束制樣技術的成熟,大大拓展了原子探針的應用范圍,可研究的對象涵蓋金屬、半導體、存儲介質,到先進材料(納米線、量子阱)等廣泛的材料類型;應用上從純學術研究到汽車、航空發動機、核設施、半導體芯片、LED、光伏材料等等應用科學甚至直接的生產過程監控。從無機材料到有機材料—《Nature》曾報道了利用這一技術對動物頭蓋骨的研究。時至今日,3DAP技術因其獨到的分析視角正在為越來越多的材料研發人員所認識,已經逐漸加入TEM、SIMS等工具的行列,成為材料分析的主流分析技術之一。
CAMECA三維原子探針LEAP系列LEAP HR LEAP系列原子探針設備分 LEAP HR 與 LEAP Si 兩種類型。LEAP HR 適用于研究先進材料和金屬材料。
其主要特性: 局部電極 和 微尖陣列 局部電極(Local ElectrodeTM)是原子探針的關鍵部件。LEAP—局部電極原子探針(Local ElectrodeTM Atom Probe)即取名于此。局部電極的應用改善了原子探針的易用性和數據質量,也因為局部電極,原子探針可以利用微尖陣列(MicrotipTM arrays)一次裝載多個樣品,大大提高原子探針的實驗效率。 反射鏡 — 高質量分辨率 和 大視場 新一代 LEAP 4000X HR 配備了新型能量補償反射鏡(Reflectron),在優化質量分辨率的同時獲得了大視場(可達250nm)。對于工作在電壓脈沖模式下的那些應用(例如,傳統的金屬材料),將獲得出色的質量分辨率。 小束斑UV激光 在激光模式下工作時,LEAP 4000X HR使用了聚焦到很小束斑的UV波長激光。小束斑保證了優異的質量分辨,UV波長保證了對包括許多絕緣體在內的眾多材料都可以給出更好的結果。
T7體外轉錄法RNA探針標記試劑盒()
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