光學測量儀產品及廠家
ace3-2000 ccd輝度色度測量儀擁有強大的測定功能，可廣泛應用于不同的域。lcd、背光板、導光板、led、oled、lens、發光按鍵、廣告燈箱、投影機、光學膜片、道路亮度、標識、室內或戶外照明分布、燈具等的照明分布……。
更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
電線電纜測量數顯投影儀的詳細描述： 電線電纜測量數顯投影儀主要技術參數： 1）電線電纜測量數顯投影儀投影屏面徑：￠300mm，內刻式米字線，永不磨損。 2）電線電纜測量數顯投影儀旋轉角度數顯顯示值：0.01°或者1′
更新時間:2025-04-08
影像測量儀參數，二次元影像測量儀的價格，二次元測量儀特點主要是彌補了傳統投影儀的不足，采用攝像機將待測物體拍攝成圖像，再傳輸到電腦，然后用專業的影像測量軟件，便能高效檢測各種復雜工件的輪廓、表面形狀尺寸、角度及位置。
更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
電線電纜測量投影儀，絕緣護套測量儀是一種光、機、電一體化的精密高效光學計量儀器，適用于以二坐標測量為目的的一切應用領域,機械、電子、儀表、塑膠等行業廣泛使用，符合gb/t2951.1《電纜絕緣和護套材料通用方法》標準要求。
更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
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更新時間:2025-04-08
數碼管顯示處理器介紹1）點、線、圓、角度、距離、矩形和螺紋等圖形元素的測量、預置和構造2）座標擺正和座標平移，方便擺正工件，減少調整時間3）三軸的顯示值4）rs232輸出功能（可打印）5）多種座標顯示方式，極座標和直角座標、inc座標和abs座標公制和英制6）對光柵尺可進行線性補償或區段線性補償7）z軸可接光柵尺或旋轉編碼器
更新時間:2025-04-08
閃測儀采用雙遠心高分辨率光學鏡頭，結合高精度圖像分析算法，并融入一鍵閃測原理。cnc模式下，只需按下啟動鍵，儀器即可根據工件的形狀自動定位測量對象、匹配模板、測量評價、報表生成，真正實現一鍵式快速精準測量。
更新時間:2025-04-08
不分光紅外co分析儀是我公司針對公共場所、工作場所的空氣中的有毒有害物質進行檢查的高精度儀器，儀器采用不分光紅外分析法/非分散紅外法（ndir）測量空氣中的壹氧化碳、二氧化碳濃等的濃度，具有測量精度高，使用壽命長，交叉干擾小等優點，是環境監測域，職業衛生監測域的必備儀器
更新時間:2025-04-07
gr-3028型紫外煙氣綜合分析儀（以下簡稱分析儀）以紫外差分吸收光譜技術為核心的新型產品，主要用于排氣管道中有害氣體成分的測量，廣泛應用于環境監測以及熱工參數測量等部門。該分析儀性能指標均符合國家環保局頒布的煙氣測試儀的有關規定。采用紫外差分吸收光譜技術和化學計量學算法測量so2/no/no2/o2/co/co2等氣體的濃度，不受煙氣中水蒸氣影響，具有較高
更新時間:2025-04-07
美國泰克tek keithley半導體參數分析儀4200a-scs ，加快半導體設備、材料和工藝開發的探索、可靠性和故障分析研究。 業內領先性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (i-v)、電容-電壓 (c-v) 和超快脈沖 i-v 測量。
更新時間:2025-04-07
瑞士nanosurf 原子力顯微鏡coreafm ，非常智能地聯合了原子力顯微鏡的核心部件來實現最多功能化與用戶方便使用性. 正是由于這種基礎的設計, coreafm非常合理的實現了最優化的原子力顯微鏡的功能.
更新時間:2025-04-07
韓國ecopia霍爾效應測量系統hms3000，hms5000，用于研究半導體材料/光電材料的電學特性，可以測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。
更新時間:2025-04-07
美國 mmr 霍爾效應測量系統 h5000，用于研究光電材料的電學特性，利用范德堡測量技術測量材料在不同溫度、磁場下的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數及載流子類型。整套系統主要包括控制器、樣品室、磁場三部分。
更新時間:2025-04-07
美國nanovea三維表面形貌儀hs1000型，是一款高速的三維形貌儀，最高掃描速度可達1m/s,采用國際領先的白光共聚焦技術，可實現對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試，具有測量精度高，速度快，重復性好的優點，該儀器可用于測量大尺寸樣品或質檢現場使用。
更新時間:2025-04-07
德國 yxlon 高分辨率ｘ射線檢測設備 y.cougar smt 平板探測器（標配） y.cheetah 高速平板探測器（標配）
更新時間:2025-04-07
美國royec芯片拾取及放置系統die pick & place systems,new !! ap+ 全自動芯片分選系統
更新時間:2025-04-07
美國royec半自動型芯片拾取系統de35-st ,最小200微米芯片拾取,可選配背面，側面檢測,可選配芯片轉向功能.
更新時間:2025-04-07
美國rti自動特性圖示儀 mt century curve tracer，是一個性價比較高的曲線追蹤設備。最多到96個channel，提供4種型號可供客戶選擇，mt century curve tracer 與rti其他大型curve trace擁有一樣的可靠性，功率和軟件。像其他rti機型一樣，mt century系統的設計有與950系列的測試夾具及其它專用夾具連接的接口。
更新時間:2025-04-07
德國klocke nanotech納米級三維測量儀3d nanofinger，是一種實用的納米精度坐標和形貌綜合測量設備。由臺架、控制系統、探頭、針尖組成. 可測量樣品外形尺寸，表面輪廓、粗糙度等，并可與超精密微加工、微組裝系統組合，進行在線檢測、質量控制等。
更新時間:2025-04-07
美國filmetrics 薄膜厚度測量系統f20，f30，f40，f50，f60，f3-xxt 系列，臺式薄膜厚度測量系統
更新時間:2025-04-07
美國 sonix 超聲波掃描顯微鏡:echo-vs, echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,sonix echo vs™ 是專為更高精度要求，更復雜元器件設計的新一代設備。echo pro™全自動超聲波掃瞄顯微鏡,編程自動判別缺陷,高產量,無需人員重復設置.
更新時間:2025-04-07
德國bruker ft-nir光譜儀tango,mpa,matrix-i.ft-nir光譜儀已經在包括制藥，食品，農業和化學行業在內的所有行業的質量控制應用中得到了很好的應用。它為耗時的濕法化學方法和色譜技術提供了一種實用的替代方法。ft-nir無破壞性，不需要樣品制備或危險化學品，使其定量和定性分析快速可靠。
更新時間:2025-04-07
sentech ald實時監測儀是一種新型的光學診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內開發新工藝、實時研究ald循環中的反應機理是sentech ald實時監測儀的主要應用。
更新時間:2025-04-07
美國ogp光學式坐標測量儀 zip 250 ，5:1 accucentric 電動變焦透鏡，在每次放大變倍時自動校準，可選配接觸式探頭、激光和微型探針。
更新時間:2025-04-07
美associated 耐壓測試儀hypotmax 7710 ，是一款12 kvdc hipot測試儀，用于為電纜、電線、線束和電氣元件測試提供高直流輸出電壓。該產品非常易于使用，并為安全有效的測試提供了各種特性。它有專利smartgfi®操作,它還包括電荷lo®和斜坡嗨®系統。最后，該系統具有遠程安全聯鎖和數控電弧檢測系統。
更新時間:2025-04-07
montana 新型超精細多功能無液氦低溫光學恒溫器完全擺脫了液氦。完全閉循環的制冷系統只需要極少量的氦氣即可讓系統達到極限低溫。系統具有超快降溫、超低震動和超高的溫度穩定性。全自動化的控制軟件，簡化了用戶的操作流程。
更新時間:2025-04-07
德國attocube磁共振顯微鏡/低溫強磁場磁共振顯微鏡attocsfm,完美集成了由完全無磁性材料制備的高數值孔徑（na）共聚焦顯微鏡與原子力顯微鏡來滿足odmr實驗的需求。
更新時間:2025-04-07
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非常快速的厚度測量。在100毫秒以內進行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預定配方。
更新時間:2025-04-07
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數或折射率的光譜數據分析，這些參數都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據cauchy色散、drude振蕩給出的參數描述和擬合材料。
更新時間:2025-04-07
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統中。
更新時間:2025-04-07
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-04-07
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統是為高產量生產用戶而設計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費不到一分鐘。電阻率和導電類型變化的自動掃描可用于質量控制和監測爐子性能。面可以自動轉動，以便測量所有的四個側面。
更新時間:2025-04-07
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