掃描電子顯微鏡（SEM）產(chǎn)品及廠家
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-04-10
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-04-10
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現(xiàn)了功能的多樣化。根據(jù)需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進(jìn)行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-04-10
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構(gòu)，在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-04-10
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現(xiàn)了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準(zhǔn))的高能量分辨率進(jìn)行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-04-10
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。
更新時間:2025-04-10
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng) jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進(jìn)行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內(nèi)部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結(jié)構(gòu)。
更新時間:2025-04-10
日本jeol 雙束加工觀察系統(tǒng) jib-4700f，該設(shè)備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統(tǒng)，在1kv低加速電壓下,實現(xiàn)了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進(jìn)行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-04-10
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更廣泛的分析。
更新時間:2025-04-10
德neaspec真空太赫茲波段近場光學(xué)顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統(tǒng)成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設(shè)計優(yōu)勢，采用專利保護的雙光路設(shè)計，完全可以實現(xiàn)真空環(huán)境下太赫茲波段應(yīng)用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現(xiàn)30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現(xiàn)近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-04-10
本儀器具有較高的測量精度，適用于長度和角度的精密測量；同時由于配備有多種附件，使其使用范圍得到充分的擴大。應(yīng)用計算機輔助測量，能解決各種復(fù)雜的二維測量問題，主要的測量對象有：刀具、量具、模具、樣板、螺紋和齒輪類工作等
更新時間:2025-04-10
日立高新掃描電子顯微鏡此外，還搭載了全新的導(dǎo)航功能“sem map”，這個功能可彌補電子顯微鏡上難以找準(zhǔn)視野的缺點，實現(xiàn)直觀的視野移動。flexsem 1000 ii，憑借全新設(shè)計的電子光學(xué)系統(tǒng)和高靈敏度檢測器，可在加速電壓20 kv下實現(xiàn)4.0 nm的分辨率。全新開發(fā)的用戶界面，具有亮度和對焦自動調(diào)節(jié)功能，可以在短時間內(nèi)進(jìn)行各種觀察。
更新時間:2025-04-09
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-04-09
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-04-09
日立2011年新推出了su9000超高分辨冷場發(fā)射掃描電鏡，達(dá)到掃描電鏡世界最高二次電子分辨率0.4nm和stem分辨率0.34nm。日立su9000采取了全新改進(jìn)的真空系統(tǒng)和電子光學(xué)系統(tǒng)，不僅分辨率性能明顯提升，而且作為一款冷場發(fā)射掃描電鏡甚至不需要傳統(tǒng)意義上的flashing操作，可以高效率的快速獲取樣品超高分辨掃描電鏡圖像。 特點： 1. 新型
更新時間:2025-04-09
s-3400n掃描電子顯微鏡 s-3400n具有最新開發(fā)的電子光學(xué)系統(tǒng)，強大的自動化功能，操作更簡易。 特點: 1. s-3400n具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設(shè)定、 自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。 2. 在3kv低加速電壓時
更新時間:2025-04-09
s-3700n 多功能分析型可變壓掃描電鏡 研究超大，超重，超高樣品的分析型掃描電鏡 ● 最大可載樣品直徑達(dá)300mm ●最大觀察區(qū)域直徑達(dá)203mm ● 在觀察110mm高樣品時可進(jìn)行能譜分析 ● 樣品室設(shè)置多種接口，可安裝eds、wds、ebsd和cl等多種分析用附件 ● 5軸優(yōu)中心馬達(dá)臺可以傾
更新時間:2025-04-09
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-04-09
日立tm4000ⅱ掃描電鏡獨特的低真空系統(tǒng)使得樣品不需任何處理即可快速進(jìn)行觀察。 tm4000ⅱ優(yōu)化提供5kv、10kv、15kv、20kv四種不同電壓下的觀察模式，每種模式下電流4檔可調(diào)，并配備4分割背散射探測器，可采集四個不同方向的圖像信息，對樣品進(jìn)行多種模式成像。具有全新的sem-map導(dǎo)航功能，同時，電鏡圖片可以報告形式導(dǎo)出。配備大型樣品倉，可容納大樣品直徑80mm，厚度50mm。
更新時間:2025-04-09
flexsem1000 ii是日立新的落地式小型鎢燈絲掃描電鏡，具有體積小、操作簡單、性能強、擴展功能豐富等特點。flexsem1000 ii配備了二次電子探測器和背散射電子探測器，可以觀察樣品的形貌和成分；同時具有低真空功能，可以直接觀察不導(dǎo)電樣品和含水樣品；配合新增的sem-map光鏡導(dǎo)航和5軸樣品臺可以快速、高效的完成觀察任務(wù)。
更新時間:2025-04-09
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-04-09
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-04-09
上海祥樹歐茂機電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應(yīng)鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時間:2025-04-09
上海祥樹歐茂機電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應(yīng)鏈體系，竭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時間:2025-04-09
上海祥樹歐茂機電設(shè)備有限公司成立于1999年，經(jīng)過多年的努力與良好的信譽度，公司與國際機電行業(yè)品牌twk、mts、hydac、masterk、weber、radio-energie、lenord bauer、elcis、ipf、hemomatik等千余家品牌廠商密切合作，形成了個穩(wěn)定而高效的全球化國際供應(yīng)鏈體系，竭真探頭盡全力為客戶提供服務(wù)。
更新時間:2025-04-09
國儀量子場發(fā)射掃描電鏡sem5000，可實現(xiàn)低電壓高分辨成像，磁性樣品也可適用，豐富的接口，滿足多樣的需求，精心設(shè)計的人機交互方便操作，快速上手
更新時間:2025-04-09
sem3200是一款高性能、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴展性，助您在顯微成像的中盡情探索。
更新時間:2025-04-09
sem5000x是一款超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡，其分辨率達(dá)到了突破性的0.6 nm@15 kv和1.0 nm@1 kv。高分辨物鏡設(shè)計、高壓隧道技術(shù)（supertunnel）以及鏡筒工藝升，實現(xiàn)了低電壓分辨率的進(jìn)一步提升。全新設(shè)計的樣品倉，擴展接口增加至16個，快速換樣倉大支持8寸晶圓（大直徑208 mm），大擴展應(yīng)用范圍。高掃描模式和自動功能增強，帶來了更強的性能和更好的體驗。
更新時間:2025-04-09
db500擁有自主可控的場發(fā)射電子鏡筒和“承影”離子鏡筒，是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具。高壓隧道技術(shù)（supertunnel）、低像差無漏磁物鏡設(shè)計，低電壓高分辨率成像，保證納米分析能力。“承影”離子鏡筒采用液態(tài)鎵離子源，擁有高穩(wěn)定、高質(zhì)量的離子束流，保證納米加工能力。集成式的納米機械手、氣體注入器、電子物鏡防污染機構(gòu)，擁有24個擴展口，配置全面，自主可控，擴展性強，為您打造全能納米分析和加
更新時間:2025-04-09
日立高新掃描電子顯微鏡flexsem 1000 i掃描電子顯微鏡可對材料的表面進(jìn)行高倍率觀察及高精度元素分析，在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。flexsem 1000
更新時間:2025-04-09
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日本日立hitachi超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡regulus系列 的詳細(xì)介紹 沿用"su8200系列"的冷場發(fā)射電子槍*2 采用電子束在fla
更新時間:2025-04-09
日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡su8200系列（hitachi uhr fe-sem su8200 series，su8220，su8230，su8240）采
更新時間:2025-04-09
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩(wěn)定觀察的半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計。紫外臭氧清洗機常用于掃描
更新時間:2025-04-09
日本東亞電波離子層析儀(離子色譜儀)本體裝置和數(shù)據(jù)處理裝置之間的通信，如導(dǎo)入lan的設(shè)施，可作遠(yuǎn)距操作。擁有優(yōu)越的擴張性、如增設(shè)pump、檢出器等的單元，可對應(yīng)陰離子、陽離子2ch的同時分析。依抑制因子系統(tǒng)可
更新時間:2025-04-09
上海祥樹歐茂機電設(shè)備有限公司是中國工業(yè)控制自動化域的服務(wù)貿(mào)易商，設(shè)有德國分公司,致力于為國內(nèi)客戶提供優(yōu)質(zhì)低價的德國及歐洲生產(chǎn)的各類工控自動化產(chǎn)品、儀器儀表、備品備件等。通過德國分公司在歐洲范圍內(nèi)采購,每周日由德國分公司拼單發(fā)貨并集中辦理進(jìn)口手續(xù),為您節(jié)省運費和清關(guān)等費用;每周至少空運發(fā)貨次,為您縮短貨期;可以人民幣,美金或歐元價成交,給您多樣化的選擇。 我們期待與您共同開創(chuàng)美好的明天！
更新時間:2025-04-09
在以納米技術(shù)和生物技術(shù)為主的產(chǎn)業(yè)域里，從物質(zhì)的微細(xì)結(jié)構(gòu)到組成成分，sem在多種多樣的觀察與分析中得到了靈活應(yīng)用。sem用途日益擴大，但對于鋼鐵等工業(yè)材料和汽車零配件等超大/超重樣品，由于電鏡樣品臺能對應(yīng)的樣品尺寸和重量受到限制，所以觀察時需要進(jìn)行切割等加工。因此，對超大樣品不施以加工處理，便可直接觀察表面微細(xì)形貌和進(jìn)行各種分析則成為重要的課題。
更新時間:2025-04-07
“tm4000”和“tm4000plus”可簡化從樣品觀察、圖像確認(rèn)到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標(biāo)配了報告生成功能，觀察結(jié)束后可十分輕松地將拍攝的圖像制作成microsoft®word®、excel®、powerpoint®格式的報告。此外，選配項還可實現(xiàn)更多功能。可在樣品倉內(nèi)加裝光學(xué)相機來拍攝照片，以往通過經(jīng)驗尋找目標(biāo)位置*1，現(xiàn)在可
更新時間:2025-04-07
“regulus系列“是日立高新技術(shù)的fe-sem的全新品牌，包括作為su8010的后續(xù)機型開發(fā)的 “regulus8100“ 以及su8200系列的升 “regulus8220“ “regulus8230“ “regulus8240“，共4個機型，均實現(xiàn)了分辨率和操作性的強化。
更新時間:2025-04-07
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。
更新時間:2025-04-07
fe-sem獲得的圖像分辨率高，信息豐富，樣品處理相對簡單，并且它可以觀察、測量并分析樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)，因此被廣泛應(yīng)用于納米技術(shù)、半導(dǎo)體、電子器件、生命科學(xué)、材料等域。近年來，以materials integration為代表，其應(yīng)用域及用途在不斷擴展，短時間內(nèi)獲取大量數(shù)據(jù)，減輕作業(yè)負(fù)荷成為市場的一大需求。
更新時間:2025-04-07
日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡su9000是門為電子束敏感樣品和需大300萬倍穩(wěn)定觀察的先進(jìn)半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計。
更新時間:2025-04-07
evo系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應(yīng)用型掃描電子顯微鏡。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術(shù)的物鏡設(shè)計，提供高低真空成像功能，可對各種材料表面作分析，并且具有業(yè)界先的x射線分析技術(shù)。
更新時間:2025-04-06
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
更新時間:2025-04-06
sigma 300 性價比高。sigma 500 裝配有一流的背散射幾何探測器，可快速方便地實現(xiàn)基礎(chǔ)分析。任何時間，任何樣品均可獲得精準(zhǔn)可重復(fù)的分析結(jié)果。
更新時間:2025-04-06
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的gemini光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，分辨率超過0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學(xué)設(shè)計使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數(shù)據(jù)。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準(zhǔn)的匹配您的應(yīng)用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結(jié)構(gòu)、薄膜、涂層和多層的圖像信息。【技術(shù)參數(shù)】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時間:2025-04-03
最新產(chǎn)品
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