掃描電子顯微鏡（SEM）產品及廠家
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-04-03
table-sem (臺式掃描電子顯微鏡)主要功能 1) 大放大倍率15萬倍 2) top-view ccd 相機 - navigation mode : 樣品原圖像抓取 - click & move (auto) 3) fully motorzied stage - x,y,r,z,t - 5軸 - recipe function : 分析位置儲存后再分析功能 4) b type : se (二
更新時間:2025-04-03
蔡司公司最新推出的sigma 500/vp場發射掃描電鏡采用成熟的gemini光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供最高分辨率和最佳分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于一流的eds幾何學設計使您可以獲取精湛的分析性能。借助sigma直觀便捷的四步工作流程可以快速成像、簡化分析程序、提高工作效率。您會比以往更快、更多的獲取數據。多種探測器的選擇使sigma500/vp可以精準的匹配您的應用程序：您可以獲取微小粒子、表面、納米結構、薄膜、涂層和多層的圖像信息。【技術參數】分辨率： 0.8nm @15 kv 1.6 nm @1kv
更新時間:2025-04-03
二十多年來，基于日漸完善的gemini技術，geminisem具有完整高效的檢測系統、極高的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設計將靜電場與磁場結合，可在最大限度地提升光學性能的同時將場發射對樣品的損傷降至最低。此設計確保了極佳的成像質量，即使是較具挑戰性的磁性材料也同樣可以達到良好的成像效果。通過二次電子和背散射電子的檢測也使得高效率的信號探測成為可能。探測器安裝在光軸上，可以減少調整時間，并可最大限度地降低成像時間。gemini電子束加速器技術確保了小的探針尺寸和高的信噪比，以達到超低的加速電壓。【技術參數】
更新時間:2025-04-03
nspecttm系列滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計，配備高穩定分辨率平臺，可滿足大多數研究的需要。簡單易用的界面可實現準確、快速的數據收集：將表面形貌和成分圖像與快速元素分析結合，確定材料特性及其化學元素組成。在眾多領域，高分辨率和高電流 feg 掃描電鏡的價值在于有助應對生成高品質圖像和實施快速分析的挑戰。
更新時間:2025-04-03
該產品是世界上di一款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發射掃描電子顯微鏡（feg-sem）。作為fei公司引領市場的眾多設備中zui新的一員，nova nanosem為用戶在納米研究、開發與生產的相關工作提供了更多的可能。 nova nanosem的出現為那些非導電的以及有污染的納米材料研究和開發者們帶來了新的表征手段。與nanosem同時
更新時間:2025-04-03
全新的 magellan? 400 sem 是首款可在1-30 kv 電子能量范圍內提供亞納米級分辨率的掃描電鏡，有效建立被稱為 xhr 掃描電鏡的全新性能類別。非凡的低加速電壓性能可提供其他技術根本無法實現的超高分辨率表面特定信息。在半導體和數據存儲市場，magellan 前所未有的性能可大幅擴展 sem 的功能，提供基礎研究、流程和材料開發、流程控制以及故障分析所需的全面解決方案。它可實現快速高襯度成像，并具備大樣品或多樣品的亞納米級分辨率成像和全面分析
更新時間:2025-04-03
?titan etem g2 是我們專用的環境 tem 平臺，設計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應。憑借du一無二的差動泵目鏡，標本區可變身為實驗室，展開對催化劑微粒、納米器件和其他材料的研究，進而在原子級別洞察表面和界面形態及相互作用。在需要時，titan etem 還可作為標準 s/tem 開展原子級別成像。- 化學成分和價鍵狀態研究
更新時間:2025-04-03
apreo 復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生前所未有的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。apreo 受益于獨特的透鏡內背散射探測，這種探測提供卓越的材料對比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時也不例外。新型復合透鏡通過能量過濾進一步提高了對比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過濾。可選低真空模式，現在的zui大樣品倉壓力為 500 pa，可以對要求zui嚴苛的絕緣體進行成像。通過這些優勢（包括復合末級透鏡、高級探測和靈活樣品處理），apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應對未來的研究難題。
更新時間:2025-04-03
fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學表征功能。talos f200x 可在所有維度 (1d-4d) 下實現zui快速、zui精確的 eds 分析，以及zui好且支持快速導航的動態顯微鏡 hrtem 成像。fei talos f200x 融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 (stem) 和 tem 成像功能與行業ling先的能量色散 x 射線光譜儀 (eds)。talos f200s 在 stem 成像上具有極大的多功能性和極高的通量。它可以為動態顯微鏡實現zui精確的 eds 分析和zui好的 hrtem。與此同時，fei talos f200s 還提供zui高的穩定性和最長的正常運行時間。
更新時間:2025-04-03
要特點：1.fei esem(環境掃描電鏡)技術, 可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.先進的系統結構平臺，全數字化系統。
更新時間:2025-04-03
verios xhr semverios 是 fei ling先的 xhr（極高分辨率）sem 系列的第二代產品。在jian端半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內提供亞納米量級分辨率以及增強的對比度，滿足材料精密測量所需，同時又不會削弱傳統掃描電子顯微鏡 (sem) 所具有的高吞吐量、分析能力、樣本靈活性和易用性等優勢。verios 的生命科學應用觀測敏感的生物樣本時，
更新時間:2025-04-03
飛納高分辨率專業版 phenom pro 是飛納電鏡系列中最先進的產品，第四代 phenom pro 放大倍數提升為 130,000 倍，分辨率優于 14 nm，30 秒快速得到表面細節豐富的高質量圖像，是目前世界上分辨率最高的臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米或納米尺度的樣品；飛納高分辨率專業版 phenom pro 繼承了飛納電鏡系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動操作、2-3 年更換燈絲及防震設計等優點。
更新時間:2025-04-03
蔡司 sigma高分辨率場發射掃描電子顯微鏡采用成熟的gemini光學系統設計，分辨率超過0.8nm，為您提供zui高分辨率和*分析性能科研平臺。sigma500/vp專注于*的eds幾何學設計使您可
更新時間:2025-04-03
蔡司 evo ma鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和大的x、y、z軸跟蹤掃描以及可變壓力的檢
更新時間:2025-04-03
fei sem apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生*的高分辨率和信號選擇。這使得 apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低
更新時間:2025-04-03
fei magellantm系列掃描電子顯微鏡界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到一納米以下。 這款電鏡上的一些重要突破在于它鏡筒上采用了革命性的單色槍技術,它使顯微學家
更新時間:2025-04-03
fei quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環境掃描電子顯微鏡（esem™）和兩個dualbeam™系統，所有這些都可以容納多個樣品和工業過程控制實驗室，材料科
更新時間:2025-04-03
fei nova nano sem 場發射掃描電子顯微鏡該產品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進行超高分辨表征的低真空場發射掃描電子顯微
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fei inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 inspecttm 專為滿足研究各類材料以及表征材料結構和成分的主流需求而設計，配備高穩定分辨率平臺，可滿足大
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fei verios xhr sem 掃描電子顯微鏡是 fei *的 xhr（*分辨率）sem 系列的第二代產品。在*半導體制造和材料科學應用中，它可在 1 至 30 kv 范圍內提供亞納米量級分辨率
更新時間:2025-04-03
蔡司 gemini sem場發射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的gemini技術，geminisem具有完整高效的檢測系統、*的分辨率以及簡便的操作方式。gemini物鏡設計將靜電場與磁場結合
更新時間:2025-04-03
sem掃描電鏡，臺式掃描電子顯微鏡在電子學研究中，掃描電鏡主要可以用來觀測及分析半導體、數據存儲材料、太陽能電池、led、元器件、pcb板及mems器件等的形態或缺陷 。
更新時間:2025-04-03
jsm-it800shl 是日本電子株式會社（jeol） 2020 年新推出的場發射掃描電鏡，它秉承 jeol 熱場發射掃描電鏡 jsm-7900f 的大束流，高穩定性的傳統，同時將分辨率提高到新的限，全新設計的超混合型物鏡，高分辨率的獲得以及磁性樣品的觀察都可以同時完成，而且標配 jeol 新開發的 neo
更新時間:2025-04-03
德國ksi i-wafer型全自動晶圓超聲波缺陷檢測系統，在ksi i-wafer的探測下，晶圓中的孔隙、分層或者雜質都能被發現。尺寸在450mm的多種晶圓也能進行檢測
更新時間:2025-04-03
ksi i-ingot型全自動晶錠分析檢測系統,適用于對晶錠的無損檢測，有了它，晶錠內部的裂縫或雜質就能得到快速檢測，晶錠的尺寸可達450mm，檢測時間短，也不需要做其它設定。
更新時間:2025-04-03
德國zeiss蔡司聚焦離子束掃描電鏡fib/sem crossbeam 350，crossbeam 550
更新時間:2025-04-03
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it200 intouchscope ，是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。使用初學者易懂的樣品交換導航，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察sem圖像。zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野，live analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果，smile viewtm lab能綜合編輯觀察和分析報告等。
更新時間:2025-04-03
日本jeol掃描電子顯微鏡 jsm-it500hr，采用新開發的高亮度電子槍和透鏡系統，可以更迅速便捷地提供令人驚嘆的高分辨率圖像、高靈敏度和高空間分辨率；從設定視野到生成報告，利用完全集成的軟件大大地提高了作業速度。
更新時間:2025-04-03
日本jeol低溫冷凍離子切片儀ib-09060cis，冷卻保持時間長，有效地抑制了熱損傷。易受熱損傷的樣品，也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。
更新時間:2025-04-03
日本jeol 離子切片儀 em-09100is ，用于tem 、stem 、 sem 、 epma 和 auger樣品制備的創新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6°）的氬離子束通過遮光帶照射樣品，大大降低了離子束對樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質量也好，對不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時間:2025-04-03
日本jeol截面樣品拋光儀ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-04-03
日本jeol截面樣品制備裝置ib-19530cp，采用多用途樣品臺，通過交換各種功能性樣品座實現了功能的多樣化。根據需要可以選擇不同的功能性樣品座，不僅能截面刻蝕，還可以進行平面刻蝕、離子束濺射鍍膜等。
更新時間:2025-04-03
日本jeol 截面樣品拋光儀 ib-19520ccp，在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對樣品造成的熱損傷。冷卻持續時間長、液氮消耗少的構造設計。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復到室溫，并且可以拆卸。配有傳送機構，在隔離空氣的環境下能完成從加工到觀察的全過程。
更新時間:2025-04-03
日本jeol 軟x射線分析譜儀，通過組合新開發的衍射光柵和高靈敏度ｘ射線ccd相機，實現了高的能量分辨率。 和eds一樣可以并行檢測，并且能以0.3ev(費米邊處al-l基準)的高能量分辨率進行分析，超過了wds的能量分辨率。
更新時間:2025-04-03
日本jeol 電子探針顯微分析儀 jxa-ihp100，可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀x射線探測器，組合使用wds和eds，能提供無縫、舒適的分析環境。
更新時間:2025-04-03
日本jeol 聚焦離子束加工觀察系統 jib-4000，配置了高性能的離子鏡筒(單束fib裝置)。被加速了的鎵離子束經聚焦照射樣品后，就能對樣品表面進行sim觀察 、研磨，沉積碳和鎢等材料。還可以為tem成像制備薄膜樣品，為觀察樣品內部制備截面樣品。通過與sem像比較，sim像能清楚地顯示出歸因于晶體取向不同的電子通道襯度差異，這些都非常適合于評估多層鍍膜的截面及金屬結構。
更新時間:2025-04-03
日本jeol 雙束加工觀察系統 jib-4700f，該設備的sem鏡筒中采用了超級混合圓錐形物鏡、gb模式和in-lens檢測器系統，在1kv低加速電壓下,實現了1.6nm的保證分辨率,與最大能獲得300na探針電流的浸沒式肖特基電子槍組合，可以進行高分辨率觀察和高速分析。
更新時間:2025-04-03
日本jeol 能量色散型x射線熒光分析儀 jsx-1000s，采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（fp法・檢量線法）、rohs元素篩選功能等。利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。
更新時間:2025-04-03
德neaspec真空太赫茲波段近場光學顯微鏡hv-thz-neasnom，該套系統成功地繼承了德國neaspec公司thz-neasnom的設計優勢，采用專利保護的雙光路設計，完全可以實現真空環境下太赫茲波段應用的樣品測量。hv-thz-neasnom在實現30nm高空間分辨率的同時，由于采用0.1-3thz波段的時域太赫茲光源（thz-tds），也可以實現近場太赫茲成像和圖譜的同時測量。
更新時間:2025-04-03
可實現大范圍、超高速、高精度與高重復性的激光光束掃描。多面掃描鏡裝置/多面轉鏡包括電機與多面鏡，多面鏡具有多個反射面，并安裝在電動機的旋轉軸上。通過電機的旋轉，多面鏡可實現高速旋轉，從而實現大角度、高速的光束掃描。
更新時間:2025-04-02
phenom maps 作為一款多模態多維度地圖式圖像自動采集及拼接軟件，可自動獲取大型圖像數據集，并直觀地組合和關聯多種成像、分析模式，從而提供多尺度和多模態的表征數據。
更新時間:2025-04-01
飛納電鏡推出的 chemisem 技術，將 sem 形貌觀察與 eds 成分分析相結合，讓工作流程更加流暢，簡化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質材料等）的分析流程：通過彩色元素分布圖與 sem 圖像的實時疊加，在成像同時提供高質量的成分定性定量信息。
更新時間:2025-04-01
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