產(chǎn)品說(shuō)明、技術(shù)參數(shù)及配置edx-t是天瑞儀器股份有限公司集30多年x熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款上照式x射線(xiàn)熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的x/y/z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等各種形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦分析。能更好地滿(mǎn)足半導(dǎo)體、芯片及pcb等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
更新時(shí)間:2025-04-10